Whole-chip ESD protection for CMOS VLSI/ULSI with multiple power pins
Ming-Dou Ker*, Chung-Yu Wu, Tao Cheng, Michael J.N. Wu, T. L. Yu, Alex C. Wang
*此作品的通信作者
研究成果: Paper › 同行評審
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引文
斯高帕斯(Scopus)