Whole-chip ESD protection for CMOS VLSI/ULSI with multiple power pins

Ming-Dou Ker*, Chung-Yu Wu, Tao Cheng, Michael J.N. Wu, T. L. Yu, Alex C. Wang

*此作品的通信作者

研究成果: Paper同行評審

8 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Whole-chip ESD protection for CMOS VLSI/ULSI with multiple power pins」主題。共同形成了獨特的指紋。