Whole-chip ESD protection design for submicron CMOS VLSI

Ming-Dou Ker*, Shue Chang Liu

*此作品的通信作者

研究成果: Conference article同行評審

10 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Whole-chip ESD protection design for submicron CMOS VLSI」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science