Wafer-level 3D integration technology

  • Steven J. Koester*
  • , Albert M. Young
  • , Roy R. Yu
  • , Sampath Purushothaman
  • , Kuan-Neng Chen
  • , Douglas C. La Tulipe
  • , Narender Rana
  • , Leathen Shi
  • , Matthew R. Wordeman
  • , Edmund J. Sprogis
  • *此作品的通信作者

    研究成果: Review article同行評審

    172 引文 斯高帕斯(Scopus)

    指紋

    深入研究「Wafer-level 3D integration technology」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Computer Science