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活動
貴重儀器
影響
Void ripening in Cu-Cu bonds
Hung Che Liu
, A. M. Gusak
, K. N. Tu
,
Chih Chen
*
*
此作品的通信作者
國際半導體產業學院
材料科學與工程學系
智慧半導體奈米系統技術研究中心
研究成果
:
Conference contribution
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Void ripening in Cu-Cu bonds」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
High Performance
100%
Annealing
100%
Annealing Time
100%
Kinetic Model
100%
Electric
100%
Specific Direction
100%
Cu-Cu
100%
Bonding Interface
100%
No-report
100%
Cu-Cu Joints
100%
Void Distribution
100%
Engineering
Joints (Structural Components)
100%
Good Agreement
50%
Kinetic Model
50%
Annealing Time
50%
Chemical Engineering
Chemical Kinetics Characteristics
100%