VIA-5 Hot-Electron Induced Excess Carriers in n-Channel MOSFETs

S. Tam, P. Ko, F. C. Hsu, Chen-Ming Hu, R. S. Muller

研究成果: Article同行評審

原文English
頁(從 - 到)1703-1704
頁數2
期刊IEEE Transactions on Electron Devices
29
發行號10
DOIs
出版狀態Published - 1 1月 1982

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