VIA-4 Avalanche-Induced Breakdown Mechanisms in Short-Channel MOSFETs

F. C. Hsu, P. K. Ko, S. Tam, Chen-Ming Hu, R. S. Muller

研究成果: Article同行評審

8 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文English
頁(從 - 到)1702-1703
頁數2
期刊IEEE Transactions on Electron Devices
29
發行號10
DOIs
出版狀態Published - 1 1月 1982

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