Unconventional resistivity scaling in topological semimetal CoSi

  • Shang Wei Lien
  • , Ion Garate
  • , Utkarsh Bajpai
  • , Cheng Yi Huang
  • , Chuang Han Hsu
  • , Yi Hsin Tu
  • , Nicholas A. Lanzillo
  • , Arun Bansil
  • , Tay Rong Chang
  • , Gengchiau Liang*
  • , Hsin Lin*
  • , Ching Tzu Chen*
    • *此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

28 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Unconventional resistivity scaling in topological semimetal CoSi」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science