Trap-related reliability problems of dielectrics in memory cells

Hiroshi Watanabe*, Hsin Jyun Lin

*此作品的通信作者

研究成果: Review article同行評審

1 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Trap-related reliability problems of dielectrics in memory cells」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science