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Threshold voltage design of UTB SOI SRAM with improved stability/ variability for ultralow voltage near subthreshold operation
Vita Pi Ho Hu, Ming Long Fan,
Pin Su
, Ching Te Chuang
電子研究所
研究成果
:
Review article
›
同行評審
7
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Threshold voltage design of UTB SOI SRAM with improved stability/ variability for ultralow voltage near subthreshold operation」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Threshold Voltage
100%
Ultra-low Voltage
100%
Read Static Noise Margin
100%
Enhanced Stability
100%
Subthreshold Operation
100%
Ultra-thin SOI
100%
6T SRAM Cell
50%
Standby Leakage
50%
High Performance
25%
Work Function
25%
Bitline
25%
Band Edge
25%
Pre-charge
25%
Suprathreshold
25%
Subthreshold Region
25%
Access Time
25%
Threshold Region
25%
Stability Margin
25%
Engineering
Noise Margin
100%
Band Edge
25%
Bit Line
25%
Stability Margin
25%
Access Time
25%
Operating Cell
25%
Earth and Planetary Sciences
Threshold Voltage
100%
Work Function
50%