Thermal stability of SiGe dynamic threshold pMOSFET

W. M. Liao*, C. F. Shih, Pei-Wen Li

*此作品的通信作者

研究成果: Paper同行評審

1 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文English
頁面137-140
頁數4
DOIs
出版狀態Published - 6月 2005
事件12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2005 - Singapore, Singapore
持續時間: 27 6月 20051 7月 2005

Conference

Conference12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2005
國家/地區Singapore
城市Singapore
期間27/06/051/07/05

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