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The zero-temperature-coefficient point modeling of DTMOS in CMOS Integration
Kuan Ti Wang
*
, Wan Chyi Lin,
Tien-Sheng Chao
*
此作品的通信作者
電子物理學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
5
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「The zero-temperature-coefficient point modeling of DTMOS in CMOS Integration」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Zero Temperature Coefficient
100%
Dynamic Threshold MOSFET (DTMOS)
100%
CMOS Integration
100%
Saturation Region
40%
Linear Region
40%
Low Power Consumption
20%
CMOS Technology
20%
Integrated Circuits
20%
Drive Current
20%
Maximum Absolute Errors
20%
Transistor
20%
Analytical Expression
20%
Gate Voltage
20%
Temperature-independent
20%
Conventional MOSFET
20%
Transistor Control
20%
Point Model
20%
Analytical Formulation
20%
Engineering
Temperature Coefficient
100%
Saturation Region
50%
Linear Region
50%
Low Power Consumption
25%
Good Agreement
25%
Current Drive
25%
Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
25%
Gate Voltage
25%
Integrated Circuit
25%