The Impact of Hot Carrier Injection-Induced Device Degradation for Lower-Power FinFETs

Yu Lin Chen, Wen Kuan Yeh, Heng Tung Hsu, Ke Horng Chen, Der Hsien Lien, Wen Chin Lin, Tien Han Yu, Yu Sheng Chiu, D. Godwinraj, D. Godfrey, Chien Hung Wu*

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

指紋

深入研究「The Impact of Hot Carrier Injection-Induced Device Degradation for Lower-Power FinFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。

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