The growth mechanism of micron-size V defects on the hydride vapor phase epitaxy grown undoped GaN films

Pei Yen Lin, Yew-Chuhg Wu*

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

5 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「The growth mechanism of micron-size V defects on the hydride vapor phase epitaxy grown undoped GaN films」主題。共同形成了獨特的指紋。

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