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The fault detection of cross-check test scheme for infrared FPA
Meng Lieh Sheu, Tai Ping Sun, Chi Wen Lu, Mon Chau Shie
照明與能源光電研究所
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「The fault detection of cross-check test scheme for infrared FPA」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Fault Detection
100%
Infrared Focal Plane Array
100%
Array Size
66%
Cell Size
33%
Testing Time
33%
Test Design
33%
Fault Detectability
33%
Engineering
Focal Plane
100%
Check Test
100%
Array Size
66%
Detectability
33%
Testing Time
33%
Mathematics
Fault detection
100%
Detectability
100%
Physics
Focal Plane Device
100%