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Testing process precision for truncated normal distributions
W.l. Pearn
*
,
Hui-Nien Hung
, Nan Fu Peng, C. Y. Huang
*
此作品的通信作者
工業工程與管理學系
統計學研究所
研究成果
:
Article
›
同行評審
13
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Testing process precision for truncated normal distributions」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Testing Process
100%
Process Precision
100%
Truncated Normal Distribution
100%
Manufacturing Industry
40%
Precision Measure
40%
Testing Procedures
20%
Specification Limits
20%
Plant Application
20%
Sampling Distribution
20%
Precision Index
20%
Product Quality
20%
Accurate Approximation
20%
Numerical Measures
20%
Product Process
20%
Scrap
20%
Quality Consistency
20%
Automatic Machine
20%
Contaminated Normal
20%
Engineering
Normal Distribution
100%
Product Quality
33%
Automatic Machine
33%
Mathematics
Gaussian Distribution
100%
Sampling Distribution
33%
Testing Procedure
33%
Physics
Gaussian Distribution
100%
Earth and Planetary Sciences
Normal Density Functions
100%