Test structures to verify ESD robustness of on-glass devices in LTPS technology

  • Ming-Dou Ker*
  • , Chih Kang Deng
  • , Sheng Chieh Yang
  • , Yaw Ming Tasi
    • *此作品的通信作者

    研究成果: Paper › 同行評審

    指紋

    深入研究「Test structures to verify ESD robustness of on-glass devices in LTPS technology」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Material Science