Test structure on SCR device in waffle layout for RF ESD protection

Ming-Dou Ker*, Chun Yu Lin

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    5 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Test structure on SCR device in waffle layout for RF ESD protection」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Material Science

    Computer Science