Temperature-accelerated dielectric breakdown in ultrathin gate oxides
C. C. Chen*, C. Y. Chang, Chao-Hsin Chien, T. Y. Huang, Horng-Chih Lin, M. S. Liang
*此作品的通信作者
研究成果: Article › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）