Suppression of photo-bias induced instability for amorphous indium tungsten oxide thin film transistors with bi-layer structure

  • Po-Tsun Liu*
  • , Chih Hsiang Chang
  • , Chih Jui Chang
    • *此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

34 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Suppression of photo-bias induced instability for amorphous indium tungsten oxide thin film transistors with bi-layer structure」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Physics