Suppression of photo-bias induced instability for amorphous indium tungsten oxide thin film transistors with bi-layer structure

Po-Tsun Liu*, Chih Hsiang Chang, Chih Jui Chang

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

33 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Suppression of photo-bias induced instability for amorphous indium tungsten oxide thin film transistors with bi-layer structure」主題。共同形成了獨特的指紋。

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Physics