Submicron CMOS thermal noise modeling from an RF perspective

Jeffrey J. Ou*, Xiaodong Jin, Chen-Ming Hu, Paul R. Gray

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference article同行評審

    13 引文 斯高帕斯(Scopus)

    指紋

    深入研究「Submicron CMOS thermal noise modeling from an RF perspective」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science