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Study on etching profile of nanoporous silica
C. W. Chen, T. C. Chang
*
,
Po-Tsun Liu
, T. M. Tsai, H. H. Wu, Tseung-Yuen Tseng
*
此作品的通信作者
光電工程學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Study on etching profile of nanoporous silica」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Sidewall
100%
Etching Rate
100%
Organosilicate
100%
Nanoporous Silica
100%
Si-H Bonds
100%
Etch Profile
100%
H2 Plasma Treatment
100%
Organosilicate Glass
100%
Oxides
50%
OH Bond
50%
FTIR Spectra
50%
Spectral Analysis
50%
Plasma Treatment
50%
O2 Plasma
50%
Etching Process
50%
H2 Plasma
50%
Pattern Profiles
50%
Plasma Ashing
50%
Fluorocarbon Plasma
50%
Nanoporous Silica Film
50%
High Porosity
50%
Etching Conditions
50%
Porous Silica
50%
Stress Evolution
50%
Si-OH
50%
Gelation
50%
F-ratio
50%
Hydrophobia
50%
Reactive Etching
50%
Polymerization Rate
50%
Material Science
Silicon Dioxide
100%
Film
66%
Oxide Compound
33%
Chemical Vapor Deposition
33%
Oxidation Reaction
33%
Polymerization
33%
Surface (Surface Science)
33%