Study on etching profile of nanoporous silica

C. W. Chen, T. C. Chang*, Po-Tsun Liu, T. M. Tsai, H. H. Wu, Tseung-Yuen Tseng

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

指紋

深入研究「Study on etching profile of nanoporous silica」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Material Science