Study of electromigration in thin tin film using edge displacement method

Hsin-Chieh Yu, S. H. Liu, Chih Chen*

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

16 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Study of electromigration in thin tin film using edge displacement method」主題。共同形成了獨特的指紋。

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