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Structure study of GaN:Mg films by X-ray absorption near-edge structure spectroscopy

  • Y. C. Pan*
  • , S. F. Wang
  • , W. H. Lee
  • , W. C. Lin
  • , C. I. Chiang
  • , H. Chang
  • , H. H. Hsieh
  • , J. M. Chen
  • , D. S. Lin
  • , M. C. Lee
  • , Wei-Kuo Chen
  • , W. H. Chen
    • *此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

3 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Structure study of GaN:Mg films by X-ray absorption near-edge structure spectroscopy」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Physics

Engineering

Material Science