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Structural characteristics and interfacial reactions of low dielectric constant porous polysilazane for Cu metallization

  • J. H. Wang
  • , Po-Tsun Liu
  • , T. S. Chang
  • , T. C. Chang
  • , L. J. Chen*
  • *此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

4 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Structural characteristics and interfacial reactions of low dielectric constant porous polysilazane for Cu metallization」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Material Science

Chemical Engineering