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Strategy of Mitigating Breakdown Interference and Yield Loss in Crossbar Memory
Che Chia Chang
, I. Ting Wang
, Hsin Hui Huang
, Boris Hudec
, Ming Hung Wu
, Chih Cheng Chang
,
Po Tsun Liu
,
Tuo Hung Hou
*
*
此作品的通信作者
光電工程學系
電機工程學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Strategy of Mitigating Breakdown Interference and Yield Loss in Crossbar Memory」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Alleviation
25%
Area Density
25%
Array Size
50%
Array Yield
50%
Biasing Scheme
50%
Cell Parameters
25%
Cell Resistance
25%
Crossbar Array
25%
Crossbar Memory
100%
Defect Formation
25%
Device Breakdown
25%
Device Yield
100%
High Density
25%
Inter-cell Interference
25%
Large Array
25%
Latency
25%
Line Resistance
25%
Memory Bank
25%
Memory Capacity
25%
Multiple Arrays
25%
Nave
25%
Redundant Design
25%
Small Array
25%
Sneak Current
25%
Strong Interference
25%
Test Bias
50%
Yield Loss
100%
Engineering
Area Density
50%
Array Size
100%
Cell Interference
50%
Line Resistance
50%
Material Science
Density
100%