Statistical metrology of metal nanocrystal emories with 3-D finite-element analysis

Jonathan Shaw*, Tuo-Hung Hou, Hassan Raza, Edwin Chihchuan Kan

*此作品的通信作者

    研究成果: Article › 同行評審

    9 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Statistical metrology of metal nanocrystal emories with 3-D finite-element analysis」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Material Science

    Chemical Engineering