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Second Breakdown of Vertical Power MOSFET's
Chen-Ming Hu
, Min Hwa Chi
國際半導體產業學院
研究成果
:
Article
›
同行評審
3
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Second Breakdown of Vertical Power MOSFET's」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Bipolar transistors
63%
Experiments
9%
Power MOSFET
100%
Substrates
18%
Chemical Compounds
Parasitic
95%
Resistance
48%