Reliability of p-Type Pi-Gate Poly-Si Nanowire Channel Junctionless Accumulation-Mode FETs
Dong Ru Hsieh, Kun Cheng Lin, Chia Chin Lee, Tien Sheng Chao*
*此作品的通信作者
研究成果: Article › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）