Polarized optical scattering measurements of nanoparticles upon a thin film silicon wafer

Cheng Yang Liu*, Tze An Liu, Wei En Fu

*此作品的通信作者

研究成果: Conference contribution同行評審

2 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Polarized optical scattering measurements of nanoparticles upon a thin film silicon wafer」主題。共同形成了獨特的指紋。

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