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Polarized optical scattering measurements of metallic nanoparticles on a thin film silicon wafer
Cheng Yang Liu
*
, Tze An Liu, Wei En Fu
*
此作品的通信作者
生物醫學工程學系
研究成果
:
Conference contribution
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Polarized optical scattering measurements of metallic nanoparticles on a thin film silicon wafer」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Agriculture & Biology
wafers
100%
silicon
79%
nanoparticles
74%
films (materials)
62%
reflectance
32%
light scattering
24%
polarized light
14%
Physics & Astronomy
wafers
56%
nanoparticles
51%
bidirectional reflectance
44%
silicon
40%
thin films
38%
scattering
38%
distribution functions
25%
light scattering
18%
radiance
12%
irradiance
11%
polarized light
10%
angular distribution
9%
polarization
5%
Earth & Environmental Sciences
nanoparticle
70%
silicon
68%
scattering
59%
bidirectional reflectance
41%
light scattering
23%
distribution
19%
irradiance
10%
radiance
10%
polarization
9%
matrix
6%
calculation
5%
particle
5%