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Polarized optical scattering measurements of metallic nanoparticles upon a silicon wafer
Cheng Yang Liu
*
, Wei En Fu
*
此作品的通信作者
生物醫學工程學系
研究成果
:
Conference contribution
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Polarized optical scattering measurements of metallic nanoparticles upon a silicon wafer」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Mathematics
Wafer
100%
Nanoparticles
95%
Silicon
91%
Scattering
59%
Ellipsometry
40%
Light Scattering
35%
Gold
27%
Polarization
24%
Experimental Data
22%
Prediction
17%
Engineering & Materials Science
Silicon wafers
78%
Nanoparticles
64%
Scattering
61%
Ellipsometry
36%
Light polarization
32%
Light scattering
30%
Gold
23%
Impurities
20%
Polarization
19%
Physics & Astronomy
wafers
48%
nanoparticles
43%
silicon
34%
scattering
33%
contaminants
22%
particulates
21%
ellipsometry
21%
polarized light
20%
light scattering
18%
gold
16%
predictions
11%
polarization
11%
Chemical Compounds
Nanoparticle
32%
Ellipsometry
23%
Light Scattering
19%
Sphere
18%
Polarization
16%
Reaction Yield
8%
Surface
6%