Plate-Noise Analysis of an On-Chip Generated Half-VDD Biased-Plate PMOS Cell in CMOS DRAM's

Nicky C.C. Lu, Hu H. Chao, Wei Hwang

研究成果: Article › 同行評審

10 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Plate-Noise Analysis of an On-Chip Generated Half-VDD Biased-Plate PMOS Cell in CMOS DRAM's」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering