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Particle contaminations in LPCVD polysilicon
W. H. Chen,
Tien-Sheng Chao
, Y. N. Liu, T. F. Lei, K. S. Chou
電子物理學系
研究成果
:
Article
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Particle contaminations in LPCVD polysilicon」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Low Pressure Chemical Vapor Deposition (LPCVD)
100%
Polysilicon
100%
Particle Contamination
100%
Poly-Si Film
50%
Gas Temperature
50%
Surface Defects
50%
Gas Flow Rate
50%
Injector
50%
Orthogonal Array
50%
Particle Formation
50%
Injection Temperature
50%
Injection Flow Rate
50%
Gas Injection
50%
Multiple Holes
50%
Gas Injection Rate
50%
Engineering
Polysilicon
100%
Deposited Film
50%
Key Parameter
50%
Gas Flowrate
50%
Gas Injection Rate
50%
Gas Injection
50%
Surface Defect
50%
Chemical Engineering
Polysilicon
100%
Low Pressure Chemical Vapor Deposition
100%
Film
50%