Overview on ESD protection designs of low-parasitic capacitance for RF ICs in CMOS technologies

Ming-Dou Ker*, Chun Yu Lin, Yuan Wen Hsiao

*此作品的通信作者

    研究成果: Review article › 同行評審

    57 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Overview on ESD protection designs of low-parasitic capacitance for RF ICs in CMOS technologies」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Computer Science

    Material Science