ON-State Human Body Model ESD Failure Mechanisms in GaN-on-Si RF MIS-HEMTs

Wei Min Wu, Shih Hung Chen*, Chun An Shih, Bertrand Parvais, Nadine Collaert, Ming Dou Ker, Tian Li Wu, Guido Groeseneken

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

3 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「ON-State Human Body Model ESD Failure Mechanisms in GaN-on-Si RF MIS-HEMTs」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

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Material Science