Numerical analysis of oxygen-related defects in amorphous in-w-o nanosheet thin-film transistor

Wan Ta Fan, Po Tsun Liu*, Po Yi Kuo, Chien Min Chang, I. Han Liu, Yue Kuo

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

5 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Numerical analysis of oxygen-related defects in amorphous in-w-o nanosheet thin-film transistor」主題。共同形成了獨特的指紋。

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