NOVEL MEASUREMENTS OF ELECTRIC FIELD ENHANCED CARRIER EMISSION OF DEFECTS IN SILICON.

Z. F. Guan*, G. P. Li, K. L. Wang, Mau-Chung Chang

*此作品的通信作者

    研究成果: Paper同行評審

    1 引文 斯高帕斯(Scopus)
    原文English
    頁面491-498
    頁數8
    出版狀態Published - 1 12月 1983

    引用此