| 原文 | English |
|---|---|
| 頁面 | 491-498 |
| 頁數 | 8 |
| 出版狀態 | Published - 1 12月 1983 |
NOVEL MEASUREMENTS OF ELECTRIC FIELD ENHANCED CARRIER EMISSION OF DEFECTS IN SILICON.
Z. F. Guan*, G. P. Li, K. L. Wang, Mau-Chung Chang
*此作品的通信作者
研究成果: Paper › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）