Novel gate-all-around polycrystalline silicon nanowire memory device with HfAlO charge-trapping layer

Ko Hui Lee, Horng-Chih Lin*, Tiao Yuan Huang

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

10 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Novel gate-all-around polycrystalline silicon nanowire memory device with HfAlO charge-trapping layer」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Material Science