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Novel gate-all-around polycrystalline silicon nanowire memory device with HfAlO charge-trapping layer

研究成果: Article同行評審

10 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Novel gate-all-around polycrystalline silicon nanowire memory device with HfAlO charge-trapping layer」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Material Science