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國立陽明交通大學研發優勢分析平台 首頁
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Novel CMOS ESD/EOS protection circuit with full - SCR structures
Ming-Dou Ker
*
, Chung-Yu Wu, Chung Yuan Lee
*
此作品的通信作者
電子研究所
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Novel CMOS ESD/EOS protection circuit with full - SCR structures」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Protection Circuit
100%
ESD Protection Device
100%
Negative Polarity
66%
Positive Polarity
66%
On chip
33%
CMOS Technology
33%
BiCMOS Technology
33%
PMOS Device
33%
NMOS Device
33%
Effective Rate of Protection
33%
Low Impedance
33%
ESD Damage
33%
ESD Current
33%
RC Delay
33%
Shunt Path
33%
High-speed Applications
33%
Polysilicon Resistor
33%
Trigger Voltage
33%
Layout Area
33%
Engineering
Internals
100%
Experimental Result
50%
Nodes
50%
Speed Application
50%
Polysilicon
50%