Novel CMOS ESD/EOS protection circuit with full - SCR structures

Ming-Dou Ker*, Chung-Yu Wu, Chung Yuan Lee

*此作品的通信作者

研究成果: Conference article同行評審

指紋

深入研究「Novel CMOS ESD/EOS protection circuit with full - SCR structures」主題。共同形成了獨特的指紋。

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