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國立陽明交通大學研發優勢分析平台 首頁
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NEW METHOD OF MEASURING DIFFUSION LENGTH AND SURFACE RECOMBINATION VELOCITY.
Y. S. Kim
*
, C. I. Drowley,
Chen-Ming Hu
*
此作品的通信作者
國際半導體產業學院
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「NEW METHOD OF MEASURING DIFFUSION LENGTH AND SURFACE RECOMBINATION VELOCITY.」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Bias voltage
86%
Curve fitting
78%
Electrodes
52%
Photocurrents
100%
Silicon
54%