Near-field optical microscopy and scanning Kelvin microscopy studies of V-defects on AIGaN/GaN films

C. S. Ku*, J. M. Peng, W. C. Ke, H. Y. Huang, N. E. Tang, Wei-Kuo Chen, W. H. Chen, M. C. Lee

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

5 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Near-field optical microscopy and scanning Kelvin microscopy studies of V-defects on AIGaN/GaN films」主題。共同形成了獨特的指紋。

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