Nanometer-scale patterning of YBCO thin films

J. M. Macaulay*, Z. Bao, B. Bi, M. Gurvitch, S. Han, Jiunn-Yuan Lin, J. Lukens, B. Nadgorny

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

7 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Nanometer-scale patterning of YBCO thin films」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science