跳至主導覽 跳至搜尋 跳過主要內容

Modification of intrinsic defects in IZO/IGZO thin films for reliable bilayer thin film transistors

  • Nidhi Tiwari
  • , Ram Narayan Chauhan
  • , Po-Tsun Liu*
  • , Han Ping D. Shieh
    • *此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

20 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Modification of intrinsic defects in IZO/IGZO thin films for reliable bilayer thin film transistors」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering

Material Science