Modeling and minimizing variations of gate-all-around multiple-channel nanowire TFTs

Po Chun Huang, Lu An Chen, C. C. Chen, Jeng-Tzong Sheu*

*此作品的通信作者

研究成果: Conference contribution › 同行評審

1 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Modeling and minimizing variations of gate-all-around multiple-channel nanowire TFTs」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science

Chemical Engineering