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Microstructural Characterization of Multilayer Metal Stack on InGaAs/InP Contact
Chih Lin Hsu,
Yewchung Sermon Wu
, Szu Hung Chen, Kun Lin Lin
*
*
此作品的通信作者
智慧半導體奈米系統技術研究中心
材料科學與工程學系
研究成果
:
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同行評審
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指紋
指紋
深入研究「Microstructural Characterization of Multilayer Metal Stack on InGaAs/InP Contact」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Multilayers
100%
Annealing
68%
Metals
66%
Surface roughness
57%
Rapid thermal annealing
52%
Surface chemistry
45%
Atomic force microscopy
43%
Temperature
41%
Diffraction
37%
Transmission electron microscopy
35%
Melting
32%
X rays
31%
Electric lines
28%
Chemical Compounds
Multilayer
91%
Resistance
65%
Metal
46%
Annealing
40%
Rapid Thermal Annealing
38%
Parasitic
31%
Surface Chemistry
23%
Melting
22%
Atomic Force Microscopy
20%
Transmission Electron Microscopy
16%
Liquid Film
12%
Physics & Astronomy
characterization
57%
metals
52%
annealing
46%
roughness
42%
metal films
26%
transmission lines
24%
temperature
22%
electric contacts
22%
x ray diffraction
22%
melting
20%
atomic force microscopy
19%
conduction
17%
transmission electron microscopy
16%
electrical resistivity
16%