Microstructural Characterization of Multilayer Metal Stack on InGaAs/InP Contact

Chih Lin Hsu, Yewchung Sermon Wu, Szu Hung Chen, Kun Lin Lin*

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

指紋

深入研究「Microstructural Characterization of Multilayer Metal Stack on InGaAs/InP Contact」主題。共同形成了獨特的指紋。

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