Metrology for analog module testing using analog testability bus

Chau-Chin Su*, Yue Tsang Chen, Shyh-Jye Jou, Yuan Tzu Ting

*此作品的通信作者

研究成果: Conference article同行評審

4 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Metrology for analog module testing using analog testability bus」主題。共同形成了獨特的指紋。

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