Majority- and minority-carrier traps in Te-doped AlInP

Y. R. Wu*, W. J. Sung, Wei-I Lee

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

6 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Majority- and minority-carrier traps in Te-doped AlInP」主題。共同形成了獨特的指紋。

Physics & Astronomy