Magnetic depth profiling Co/Cu multilayers to investigate magnetoresistance (invited)
J. Unguris*, D. Tulchinsky, M. H. Kelley, J. A. Borchers, J. A. Dura, C. F. Majkrzak, Shih-ying Hsu, R. Loloee, W. P. Pratt, J. Bass
*此作品的通信作者
研究成果: Article › 同行評審
8
引文
斯高帕斯（Scopus）