Low-Loss I/O Pad with ESD Protection for K/Ka-Bands Applications in the Nanoscale CMOS Process

Bo Wei Peng, Chun Yu Lin*

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

7 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Low-Loss I/O Pad with ESD Protection for K/Ka-Bands Applications in the Nanoscale CMOS Process」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science